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高性能X射線熒光分析儀的分析技術(shù)目前已在地質(zhì)、冶金、材料、環(huán)境等無機分析領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，是各種無機材料中主組分分析重要的技術(shù)手段之一，各種與X射線熒光光譜相關(guān)的分析技術(shù)，如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術(shù)等，在痕量和超痕量分析中發(fā)...

高性能X射線熒光分析儀的分析技術(shù)目前已在地質(zhì)、冶金、材料、環(huán)境等無機分析領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，是各種無機材料中主組分分析重要的技術(shù)手段之一，各種與X射線熒光光譜相關(guān)的分析技術(shù)，如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術(shù)等，在痕量和超痕量分析中發(fā)...

高性能X射線熒光分析儀既可用于材料的組成成分分析,也適用于固體粉末、晶體、薄膜、液體等樣品的分析。根據(jù)樣品分別選配石英池（液體樣品）或固體樣品架（粉末或片狀樣品）。儀器主要由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。高性能X射線熒光分析儀具有強大的...

薄膜厚度測量儀又稱為覆層測厚儀，原理以及應(yīng)用如下：一、薄膜厚度測量儀原理磁性測厚原理：當(dāng)測頭與覆層接觸時，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計算覆蓋層的厚度。渦流測厚原理：利用高頻交電...

實驗室的工作追求的是性，可是環(huán)境振動源的影響很容易成為一個問題，一些實驗可能由于輕微振動的影響而無法獲得的實驗數(shù)據(jù)。主動式減震系統(tǒng)就是為了解決這一問題產(chǎn)生的，它采用主動或被動的隔振措施隔離振動，提供水平、穩(wěn)定的臺面。實驗或測量不受振動因素。...

XRF鍍層測厚儀結(jié)構(gòu)新穎、體積小、重量輕、可靠。由于采用機電一體結(jié)構(gòu)，整機運轉(zhuǎn)平穩(wěn)，無振動，操作簡單，實驗速度快，降低勞動強度。它是一種對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測量的儀器，測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。...