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使用XRF鍍層測(cè)厚儀時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定有哪些呢？
2020-9-27
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使用XRF鍍層測(cè)厚儀時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定有哪些呢？覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。X射線和β射線法是無接觸無損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采... -
手持式合金分析儀的正確使用流程如下
2020-8-25
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手持式合金分析儀主要用于現(xiàn)場(chǎng)，無損，快速，分析檢測(cè)合金元素和合號(hào)的識(shí)別，在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質(zhì)量與質(zhì)量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失，因此本產(chǎn)品的出現(xiàn)正好解決了這些問題。手持式合金分析儀的主要特點(diǎn)：可用于檢測(cè)碳鋼中的鉻含量，檢測(cè)精度可達(dá)到0.03%的含量-用于評(píng)估流速促進(jìn)型腐蝕(FAC)的情況?？蛇m應(yīng)高達(dá)800°F的檢測(cè)溫度。可用于分析鐵基合金、鎳基合金、鈷基合金、銅基合金、鈦基合金、混雜合金?？梢允钟邪盐盏刈R(shí)別各種復(fù)雜的合...
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消磁器如何改善低頻電磁干擾環(huán)境
2020-5-20
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在我們工作和生活的空間周圍，處處都充斥著各種各樣的電磁波。有中低頻的電磁波，還有高頻和超高頻無線電波（其它如光波等電磁波這里就不討論了）。自從人類發(fā)現(xiàn)了電磁應(yīng)用以來，電磁能這種不能直接觀察到的物理現(xiàn)象正在日益深入我們生活的方方面面。電磁力給我們帶來許多便利，大大改善人們的工作和生活環(huán)境，但是在造福人類的同時(shí)也帶來許多麻煩和困擾。許多場(chǎng)合下，這些電磁波會(huì)產(chǎn)生相當(dāng)?shù)奈：Α?，對(duì)于裝有心臟起搏器的人來說，強(qiáng)電磁干擾很可能會(huì)奪去他們的生命。同樣，對(duì)于精密儀器和設(shè)備，電磁干擾也會(huì)使它們...
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探針式臺(tái)階儀的功能及應(yīng)用
2020-5-9
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探針式臺(tái)階儀的功能及應(yīng)用探針式輪廓儀（臺(tái)階儀）主要用于材料的結(jié)構(gòu)及表面解析，在微電子、半導(dǎo)體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫(yī)療、科學(xué)研究和材料科學(xué)領(lǐng)域大顯身手。同時(shí)按照應(yīng)用的領(lǐng)域不同，要求不同，臺(tái)階儀的型號(hào)也多種多樣，下面以我們優(yōu)尼康提供的一款型號(hào)為P-17的臺(tái)階儀為例，簡單介紹下這款儀器的功能以及應(yīng)用，以供大家參考了解臺(tái)階儀可以做什么，有哪些功能，該型號(hào)為常用款，如有更高需求也可以咨詢我們，會(huì)為大家更合適的機(jī)臺(tái)。主要功能有：·臺(tái)階高度：幾納米至1000μm·微力恒力控制：...
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優(yōu)尼康微課堂：臺(tái)階儀相關(guān)知識(shí)科普
2020-4-27
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臺(tái)階儀相關(guān)知識(shí)科普優(yōu)尼康微課堂：什么是臺(tái)階儀？臺(tái)階儀屬于接觸式表面形貌測(cè)量儀器，也叫探針式表面輪廓儀。臺(tái)階儀測(cè)量精度較高、量程大、測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定可靠、重復(fù)性好,被廣泛應(yīng)用在各行各業(yè)。測(cè)量原理：當(dāng)觸針沿被測(cè)表面輕輕滑過時(shí)，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時(shí)，還沿峰谷作上下運(yùn)動(dòng)。觸針的運(yùn)動(dòng)情況就反映了表面輪廓的情況。臺(tái)階儀性能優(yōu)劣取決于以下三個(gè)方面：測(cè)試重復(fù)性、測(cè)試速度以及操作難易程度。這些因素決定了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的質(zhì)量和實(shí)驗(yàn)操作的效率。在這以我們優(yōu)尼康提供的一款KLA臺(tái)階儀為例，簡...
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橢偏儀的應(yīng)用領(lǐng)域和特點(diǎn)
2020-4-26
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橢偏儀是一種用于探測(cè)薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測(cè)量儀器。由于測(cè)量精度高，適用于超薄膜，與樣品非接觸，對(duì)樣品沒有破壞且不需要真空，使得橢偏儀成為一種吸引力的測(cè)量儀器。橢偏儀應(yīng)用領(lǐng)域：半導(dǎo)體、微電子、MEMS、通訊、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、光學(xué)鍍膜、平板顯示器、科學(xué)研究、物理、化學(xué)、生物、醫(yī)藥。橢偏儀可測(cè)材料：半導(dǎo)體、介電材料、有機(jī)高分子聚合物、金屬氧化物、金屬鈍化膜、自組裝單分子層、多層膜物質(zhì)和石墨烯等等。橢偏儀構(gòu)造：在橢偏儀的測(cè)量中使用不同的硬件配置，但每種配置都必須能產(chǎn)生已知...
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