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高性能X射線熒光分析儀采用良好的硅SIPIN探測器（分辨率為150ev），實現(xiàn)了無液態(tài)氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達到同樣的激發(fā)效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數(shù)的性，重復性。高性能X射線熒光分析儀主要有以下幾個特點：1、在測定微量成分時，由于X射線管的連續(xù)X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X...

手持式合金分析儀在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質量與質量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來損失。手持式合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機的各種制造業(yè)。已成為質量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復檢的儀器。手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素，同時將其量化。它可以根據X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質的元素...

光學薄膜厚度測量儀是一種非接觸式測量儀器，一般會運用在生產廠商生產產品的過程，由于誤差經常會導致產品全部報廢，這時候就需要運用光學薄膜厚度測量儀來介入到生產環(huán)境，避免這種情況的發(fā)生。由于是光學測量，在測量時候無須擔心破壞樣品，讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。光學薄膜厚度測量儀的優(yōu)點：1.非接觸式測量光學薄膜厚度測量儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何...

薄膜厚度測量儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。在做測厚的時候要注意以下八點：1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。2、在測量的時候要注意，側頭與試樣表面保持垂直。3、在進行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。4、在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。5、測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將...

X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發(fā)待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態(tài)研究。高性能X射線熒光分析儀基本原理：當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現(xiàn)一個空穴，使整個原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為10-12-10-14s，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可...

現(xiàn)今的高性能電子束儀器對變化的環(huán)境磁場非常敏感。當周遭的磁場改變時會使電子顯微鏡的電子束產生偏折并造成影像解析度或測量精度下降。主動消磁系統(tǒng)系統(tǒng)可降低環(huán)境交流磁場并恢復分辨率和精度。主動消磁系統(tǒng)主要是由磁場控制器、一或兩個感測探頭及三軸向多芯的線圈組成，并安裝在電鏡房間內以產生反向磁場并改善外部磁場問題。系統(tǒng)針對外部磁場變化為自動響應，響應時間小于100微秒。AC線路場（50/60Hz）減少50x。主動消磁系統(tǒng)無法消除電梯、火車和交通等直流電場變化干擾源。若需要同時消除交流磁...